描述：JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数（ε）及损耗测试仪（tgd）

关键词：介电常数（ε），损耗测试仪（tgd），品质因数(Q)，频率(f)

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数（ε）及损耗测试仪（tgd）是目前针对PVDF薄膜材料，是一款真正意义上的绝缘薄膜材料介电常数及介质损耗测试仪。是目前能够处理的介电常数（ε）和介损（tgd）的图谱。GB/T1693-2007主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tgd)和电容量( Cx)以，其测量线路采用“正接法"即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgd）及介电常数（ε）。

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（ε）器件的介电性能测量与分析，可测试以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。

薄膜介电常数（ε）薄膜介损（tgd）图谱

三电极结构设计：

微调千分尺：微调千分尺具备0.001mm的调节精度，可精细化调节上下电极之间的距离。

平行板测试电极：下电极固定在底部支撑座，上电极可由微调千分尺调节行程距离。上电极带有保护电极。

上电极片：上电极标配有2mm球头电极、φ26.8mm圆片电极和φ38mm圆片电极。可根据样品大小随时更换。

锁紧装置：当样品放入上下电极之间后，可调节此锁紧装置，固定上下电极的调节行程。防止轻微移动引起的刻度偏差。

严格按照ASTM D150国际标准设计，电极表面镀金处理，导电性能好、抗氧化，使用寿命更长

一、真正的三电极设计

介电夹具基于ASTM D150标准试验方法，采用三电极法设计。上电极+下电极+保护电极，电极表面镀金处理，导电性能好、抗氧化。为消除测试连接线阻抗及连接线之间相互耦合对测试的影响，仪器与夹具电极连接采用4端对法。

得益于测试线缆和电极引线的良好屏蔽，屏蔽层直达测试电极，因此获得更高的校准频率。

2.校准频率最高可达100MHz

适配的阻抗分析仪更加丰富，充分利用测试仪器的测试频率范围（20Hz-120MHz），以满足测试样品对更高频率的要求。

3.高精度调节行程

适配高精度微调千分尺，可调精度为0.001mm，

上电极可调行程为12mm，并带有锁紧装置，可有效锁定当前刻度位置，确保测试的稳定性和准确性。

标配26.8/38mm尺寸电极片，可满足不同尺寸样品测量，样品安装方便、简单

主要技术参数：

1、测试频率：DC~100MHz

2、样品要求：双面涂覆电极，保持平整、光滑

3、样品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10mm

4、电极圆片：无。有效面积：样品上下涂覆电极垂直重叠部分面积

5、误差分析：存在边缘电容，样品表面凹陷处被导电体填充

6、测试接口：4个SMA母头

7、上电极：φ2mm球头电极+φ26.8mm圆片电极+φ38mm圆片电极

8、保护电极：上电极带保护电极，电极表面镀金

9、上电极压力调节：12mm行程调节，用于上电极与样品良好的电性能接触

10、带电极样品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10m

11、设计标准：ASTM D150和D2149-97国际标准，GB/T1409-2006国家标准

12、电极结构：两平行板电极+保护电极，三电极结构

13、电极引线：同轴屏蔽线，消除电磁干扰对测试影响

14、下电极：φ60mm镀金圆片电极

15、上电极行程调节：12mm行程调节，用于样品安装

16、数据存储：数据库保存各类实验数据，同时输出TXT、XLS、BMP等格式文件，对实验数据提供丰富的查询与分析，输出图形与数据。