主要功能： 材料介电常数测试仪 半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性 性能特点: 温度：RT-1000℃ 测试频率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 测试速度:最快5. 6ms/次 测试原理:自动平衡电桥 高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600

BKTEM-3型热电材料性能测试仪热电材料也称温差电材料（thermoelectric materials）是一种利用固体内部载流子运动，实现热能和电能直接相互转换的功能材料。热电效应是电流引起的可逆热效应和温差引起的电效应的总称，包括塞贝克（seebeck）效应、波尔贴（Peltier）效应和汤姆逊（Thomoson）效应。 BKTEM-3采用动态法和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电

BKTEM-S4型热电赛贝克系数测试仪 关键词：赛贝克系数，电阻 热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小，单位是V/K。   近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。

SCTS-2000系型双电测四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高正确度，特

热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的，研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质（如电介质、绝缘材料、半导体、驻极体等）的微观参数，热刺激法是一面对材料升温一面进行测量，即非等温测量。由于材料（例如介电材料）中的荷电粒子的微观参数（如活化能h、松弛时间τ等）不同，用热刺激法就很容易将材料中的各种不同h或τ的荷电粒子分离开来，从而求出各自的参数。因为热刺激电流与材料的