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内置±40V电压通用型FE-2000薄膜铁电测试仪
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报 价: | 1 |
TZTFE-2000薄膜铁电测试仪是一款应用于薄膜材料的铁电性能测试的设备,该设备具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。
内置±40V电压通用型FE-2000薄膜铁电测试仪的详细资料:
TZTFE-2000薄膜铁电测试仪
TZTFE-2000薄膜铁电测试仪是一款应用于薄膜材料的铁电性能测试的设备,该设备具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。
TZTFE-2000薄膜铁测试仪与探针台配套使用,可实现薄膜的铁电性能测试。动态电滞回线测试频率和激励测试电源,用户可根据需要进行选择,动态电滞回线测试频率范围为1mHz~500kHz可选,激励测试电源±10/30/100/200/500VAC可选,也可根据用户需要进行定制。
TZTFE-2000薄膜铁测试仪本测试系统由主控器、探针台、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了内置激励测试电源、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能,系统软件包括可视化数据采集和管理功能,测试时,无需改变测试样品的连接,即可实现滞回,脉冲,漏电,IV等性能测试。
本测试系统铁电性能测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法,与传统的Sawyer- Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度。
本系统提供外接高压放大器的接口,对于需要做高压测试、高压漏电流测试 的用户,可直接扩展此功能。
用户选择此款设备,需向厂家提供测试频率、激励测试电压等要求。
测试功能:
·动态电滞回线(DHM)
·I-V特性
·脉冲(PUND)
·静态电滞回线(SHM)
·疲劳(FM)
·漏电流(LM)
·电流-偏压
·保持力(RM)
·印迹(IM)
可扩展部件:
·探针台
·主要技术参数:
1.电压范围(内置电压):±40V,(可外接高压放大器,最大10KV);
2.ADC位数:18;
3.最小电荷分辨率:≤10fC;
4.最大电荷分辨率:276μC;
5.最大电滞回线测试频率:0.03Hz~300KHz;
6.最小电滞回线测试频率:0.01Hz;
7.最小脉冲宽度:1μs;
8.最小脉冲上升时间:50μs;
9.最大脉冲宽度:1μs;
10.额定功率:≥500W;
11.设备总电源方式:AC:220V;
12.配备JKTD型探针台(尺寸:直径30mm,材质:铜,线缆:同轴线/三轴线;)
13.漏电精度:1pA;
14.固定探针:弹簧固定/管状固定;
15.接头类型:BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子。
选配高压功率放大器:
1.输出电压:-200~200V
2.输出电流:-100~100mA
3.大信号带宽:DC≥500KHz/s
4.小信号带宽:DC≥10kHz(-3dB)
5.随时间稳定性:50ppm/小时;
6.随温度稳定性:200℃;
7.精度:≤0.1%满量程;
8.设备带有TTL接口;
9.设备带有远端控制BNC接口;
10.供电:220V,50Hz。
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